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Product Center當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心常州安柏|電橋-低電阻測(cè)試儀-電池內(nèi)阻測(cè)試儀-漏電絕緣電阻測(cè)試儀-負(fù)載LCR數(shù)字電橋
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相關(guān)文章AT821 LCR 數(shù)字電橋 100Hz,120Hz,1kHz和10kHz四檔測(cè)試頻率,可測(cè)試L, C, R, Z, D, Q六種參數(shù)。 內(nèi)建比較器,使其適合元件分選操作。
AT820 LCR 數(shù)字電橋 100Hz,120Hz和1kHz三檔測(cè)試頻率,可測(cè)試L, C, R, Z, D, Q六種參數(shù)。 較強(qiáng)抗沖擊能力。
AT2818*滿足現(xiàn)有條件測(cè)試:10Hz~300kHz,連續(xù)頻率,0.001Hz分辨率,Z高到300kHz的測(cè)試頻率,0.01V至2.00V的任意電平,內(nèi)置和外部可輸入的直流偏置,Z大256次平均,14檔分選結(jié)果輸出。
AT2817A 內(nèi)建50Hz~100kHz 16點(diǎn)測(cè)試頻率,并且提供0.01V~2.00V任意測(cè)試電平,使其能*多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
AT2817 內(nèi)建50Hz~100kHz 10點(diǎn)測(cè)試頻率,并且提供0.1V,0.3V和1.0V的測(cè)試電平,使其能*多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。